工業(yè)熱電阻測(cè)量誤差的原因

　　為了提高測(cè)量精度，減少測(cè)量誤差，延長使用壽命，聚英電子給大家講一下出現(xiàn)測(cè)量誤差的可能原因：

　　1、材質(zhì)本身不均質(zhì)

　　如果熱電阻絲是均質(zhì)的，那么依據(jù)均質(zhì)回路定則，測(cè)量結(jié)果與長度無關(guān)。然而熱電阻絲并非均質(zhì)，尤其是廉金屬熱電阻絲其均質(zhì)性較差，又處于具有溫度梯度的場(chǎng)合，那么其局部將產(chǎn)生熱電動(dòng)勢(shì)，該電動(dòng)勢(shì)稱為寄生電勢(shì)。由寄生電勢(shì)引起的誤差稱為不均質(zhì)誤差。

　　在現(xiàn)有的貴金屬、廉金屬熱電阻檢定規(guī)程中，對(duì)熱電阻的不均質(zhì)尚未作出規(guī)定，只有在熱電阻絲材標(biāo)準(zhǔn)中，對(duì)熱電阻絲的不均勻性有一定要求。對(duì)廉金屬熱電阻采用首尾檢定法求出不均勻熱電動(dòng)勢(shì)。

　　2、熱電阻絲經(jīng)使用后產(chǎn)生不均質(zhì)

　　對(duì)于新制的熱電阻，即使是不均勻熱電動(dòng)勢(shì)能滿足要求，但是，反復(fù)加工、彎曲致使熱電阻產(chǎn)生加工畸變，也將失去均質(zhì)性，而且使用中熱電阻長期處于高溫下也會(huì)因偶絲的劣化而引起熱電動(dòng)勢(shì)變化，例如：插入工業(yè)爐中的熱電阻，將沿偶絲長度方向發(fā)生劣化，并隨溫度增高，劣化增強(qiáng)，當(dāng)劣化的部分處于具有溫度梯度的場(chǎng)所，也將產(chǎn)生寄生電動(dòng)勢(shì)疊加在總熱電動(dòng)勢(shì)中而出現(xiàn)測(cè)量誤差。 總之，由不均質(zhì)即寄生電動(dòng)勢(shì)引起的誤差，取決于熱電阻絲自身的不均質(zhì)程度及溫度梯度的大小，對(duì)其定量很困難。

　　3、分流誤差的控制

　　所謂分流誤差即用鎧裝熱電阻測(cè)量爐溫時(shí)，當(dāng)熱電阻中間部位有超過800°C的溫度分布存在時(shí),因其絕緣電阻下降，熱電阻示值出現(xiàn)異常的現(xiàn)象，稱為分流誤差。而分流誤差的產(chǎn)生條件與鎧裝熱電阻種類和直徑等因素有關(guān)。高溫下鎧裝熱電阻產(chǎn)生分流誤差的現(xiàn)象，正在引起人們的重視，因此有必要了解分流誤差的影響因素，并采取適當(dāng)對(duì)策以減少或消除分流誤差的影響。

　　4、檢定時(shí)里程選擇不當(dāng)

　　這是因?yàn)槿绻锍踢x擇過高，影響測(cè)量準(zhǔn)確度，造成測(cè)量偏差﹔里程選擇過低，會(huì)超范圍無法顯示﹔如果選擇自動(dòng)里程，則會(huì)造成讀數(shù)延遲，不能保證測(cè)則里的時(shí)間間隔。所以鑒定時(shí)要選擇合適的里程。

　　5、使用數(shù)字多用表檢定熱電阻時(shí)未使用低電流檔，導(dǎo)致通過熱電阻的電流過大

　　測(cè)量熱電阻阻值時(shí)，需要通過一定的電流，在檢定過程中通過熱電阻的電流應(yīng)不大于1mA，這是因?yàn)殡娏魍ㄟ^熱電阻時(shí)。在熱電阻的感溫元件和引線上產(chǎn)生焦耳熱并形成溫度梯度，由于這種內(nèi)部熱效應(yīng)，使熱電阻自身溫度升高引起測(cè)量偏差，所以檢定過程中數(shù)字多用表應(yīng)放置在低電流檔上測(cè)量電阻值。

　　由于內(nèi)部熱效應(yīng)引起的測(cè)量偏差，其大小因流過熱電阻電流大小而不同，電流越大工業(yè)鉑熱電阻的內(nèi)部熱效應(yīng)越明顯，造成的測(cè)量偏差越大，當(dāng)通過鉑熱電阻的電流為EmA時(shí)，1號(hào)鉑熱電阻的測(cè)量值換算成溫度值后，比上一級(jí)計(jì)量部門的檢定結(jié)果約高0.03 oC，2號(hào)鉑熱電阻的測(cè)量值換算成溫度值后，比上一級(jí)計(jì)量部門的檢定結(jié)果約高0.04%。所以熱電阻在檢定或使用中電流應(yīng)受到限制。既要考慮使用較小的測(cè)量電流〉使自熱效應(yīng)減至最小程度，差要保證必要的測(cè)量靈敏度，所以采用1mA的測(cè)量電流較適宜。

　　6、分度引入的誤差;

　　7、電阻測(cè)溫元件的自熱效應(yīng)引入的誤差;

　　8、外線路電阻引入的誤差;

　　9、熱交換引起的誤差;

　　10、動(dòng)態(tài)誤差;

　　11、配套顯示儀表的誤差;

　　12、熱電阻絲的純度引起的誤差。

　　以上是檢定工業(yè)熱電阻時(shí)，產(chǎn)生測(cè)量偏差的一些因素及其原因分析，在實(shí)際檢定中應(yīng)避免這些因素對(duì)檢定結(jié)果的影響。